Data/hora: 16/05/2024 09:15:36

Biblioteca(s): | Embrapa Instrumentação.
Data corrente: | 30/03/2006
Data da última atualização: | 30/03/2006
Autoria: | ALVES, C. R.; ASSIS, O. B. G.
Título: | EDX and AFM topography analysis of sol-gel SiO2 films on ceramic substrate.
Ano de publicação: | 2000
Fonte/Imprenta: | In: ANNUAL MEETING & EXPOSITION, 102., 2000, St. Louis. Annual meeting abstracts: gateway to the new milennium: abstract book... Westerville: American Ceramic Society, 2000. p.164.
Idioma: | Inglês
Conteúdo: | Dip-coating sol-gel technique was used for SiO2 film formation onto a ceramic substrate. The main aim is to form a controlled porous thin film appropriate for enzymes coupling and sensor applications. The experimental procedure followed the conventional sol-gel process form a perecursor solution of TMOS.
Palavras-Chave: | Cerâmica; Dip-coating; Sol-gel; TMOS.
Thesaurus Nal: | atomic force microscopy.
Categoria do assunto: | --
Registro original: | Embrapa Instrumentação (CNPDIA)
Exemplares: | CNPDIA - (9696-1) - UPC - SP - -- - PROCI-00.00003 -  - 2000.00003 - DIS